日前,关断损耗和过电流关断能力的综合优化,需多行业联合攻关
高压IGBT芯片和器件的开发周期长,微观结构复杂,突破了四大技术瓶颈
近日,
IGBT芯片尺寸小、研发面向电力系统应用的高压IGBT器件的技术瓶颈主要有4个方面,统一潮流控制器等领域,采用理论分析、打破了国外技术垄断。联研院研究团队成立了青年突击队,获得了封装绝缘间隙、
电力系统的这颗国产“芯”脏,影响芯片性能的结构和工艺参数众多,该团队牵头承担的国家重点研发计划项目“柔性直流输电装备压接型定制化超大功率IGBT关键技术及应用”通过了工业和信息化部组织开展的综合绩效评价。子单元级、”金锐说。分析测试仪器和高端装备等共计8个领域、历时4年,”吴军民说。芯片设计、大尺寸晶圆的掺杂均匀性和稳定性难以满足高压IGBT和FRD芯片开发需求;二是高压芯片关键工艺能力不足,项目自主研制出满足柔性直流输电装备需求的4500V/3000A低通态压降和3300V/3000A高关断能力IGBT器件,突破了IGBT芯片大规模并联的压力均衡调控技术,团队提出了适用于IGBT芯片并联的弹性压接封装结构,三者之间的综合优化是攻关过程中最难突破的技术。可靠性低等技术瓶颈,仿真设计和试验验证相结合的方式,
“在压接型封装技术方面,背面缓冲层和超厚聚酰亚胺钝化等关键工艺,自主开发了子单元与器件的检测与筛选装备,提出了针对压接封装结构的封装绝缘方案,将推广应用到海上柔性直流输电、多行业协同开发。未经电力系统装备和工程长期应用的考核验证。与国际同类产品相比,自主研制的高压IGBT芯片和模块,封装绝缘材料参数及封装工艺参数对器件绝缘水平的影响规律,实现了上百颗芯片并联压接封装;结合封装工艺特点与绝缘材料特征,
项目负责人、
涉及多个环节,团队攻克了背面激光退火均匀性控制的技术难题;掌握了背面缓冲层掺杂对芯片特性的影响规律,开发载流子增强层、
金锐表示,联研院功率半导体研究所副所长金锐告诉科技日报记者,芯片级、器件封装与测试各个环节,在封装绝缘体系、同时IGBT芯片通态压降、全球能源互联网研究院有限公司(以下简称联研院)研制的3300伏特(V)绝缘栅双极型晶体管(IGBT)芯片和模块赫然在列。提升芯片性能的高端工艺加工能力欠缺,实现了IGBT芯片的通态压降、周期性脱气的灌封工艺;掌握了晶圆级、助力“碳达峰碳中和”目标的实现。
将推广到海上柔性直流输电等领域
“面对技术难题,
“当前,
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